简要描述：双折射显微成像仪可以用来测量液晶器件或晶体等相位延迟器的方位角和延迟量，并通过成像的方式，快速得到其二维分布图。仪器基于电控可调液晶器件，通过对光束斯托克斯矢量的探测，达到快速测量的目的，无机械转动，运行稳定，无振动干扰。